到達目標
① 基本的な機器分析法について原理や特徴、測定法などの基本的な内容を理解することができる。
② 分析の目的にあわせて適切な機器分析法を選択し、その概略を説明することができる。
③ 目的の機器分析法について、文献を調査し、必要な情報をまとめることができる。
【教育目標】D
ルーブリック
| 理想的な到達レベルの目安 | 標準的な到達レベルの目安 | 未到達レベルの目安 |
機器分析の概論の理解 | 機器分析の一般的な特徴や役割、注意事項について理解し、社会との関わりを説明できる。 | 機器分析の一般的な特徴や役割、注意事項について理解できる。 | 機器分析の一般的な特徴や役割、注意事項について理解できない。 |
各種機器分析法の理解 | 代表的な機器分析法の専門的な内容を理解し、測定例をもとに解析することができる。 | 代表的な機器分析法の基本的な内容を理解し、測定例をもとに解析することができる。 | 代表的な機器分析法の基本的な内容を理解し、測定例をもとに解析することができない。 |
文献調査・報告書の作成 | 代表的な機器分析法について文献調査を行い、その内容をまとめ、社会との関わりを説明することができる。 | 代表的な機器分析法について文献調査を行い、その内容をまとめることができる。 | 代表的な機器分析法について文献調査を行い、その内容をまとめることができない。 |
学科の到達目標項目との関係
教育方法等
概要:
基本的な機器分析法について原理や特徴、測定法などの基本的な内容について説明する。
分析の目的にあわせて適切な機器分析法を選択し、その概略を説明するために文献を調査し、必要な情報をまとめる方法について説明する。
授業の進め方・方法:
・授業は教科書を中心に、ビデオやスライドなどを用いて行う。
・定期的に文献調査の課題を課す。
注意点:
【事前学習】
・「授業項目」に対応する教科書の内容を事前に読んでおくこと。また、授業後に復習を行うこと。
・第2学年で学修した「分析化学」の内容を復習しておくこと
【評価方法・評価基準】
・試験(50%)、課題(50%)で評価する。詳細は第1回目の授業で告知する。
・必要な自学自習時間数相当分のレポート等の提出がなかったり、内容が不備の場合は評価を60点未満とする。
・60点以上を単位修得とする。
授業の属性・履修上の区分
授業計画
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週 |
授業内容 |
週ごとの到達目標 |
前期 |
1stQ |
1週 |
オリエンテーション、機器分析の役割 |
機器分析の役割について理解できる。
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2週 |
顕微鏡1:光学顕微鏡、電子顕微鏡 |
光学顕微鏡、SEM、TEM、SPMについて理解できる。
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3週 |
顕微鏡2:電子顕微鏡、走査プローブ顕微鏡 |
光学顕微鏡、SEM、TEM、SPMについて理解できる。
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4週 |
分子分光法1:光と物質の相互作用 |
吸収および発光の現象について理解できる。
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5週 |
分子分光法2:紫外可視吸光分光法 |
紫外可視分光法、蛍光法、赤外分光法の原理および応用について理解できる。
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6週 |
分子分光法3:蛍光法 |
紫外可視分光法、蛍光法、赤外分光法の原理および応用について理解できる。
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7週 |
分子分光法3:赤外分光法 |
紫外可視分光法、蛍光法、赤外分光法の原理および応用について理解できる。
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8週 |
分子分光法3:赤外分光法 |
紫外可視分光法、蛍光法、赤外分光法の原理および応用について理解できる。
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2ndQ |
9週 |
原子スペクトル法1:原子吸光法、ICP発光法 |
原子吸光法、ICP発光法、ICP質量分析法の原理および応用について理解できる。
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10週 |
原子スペクトル法2:ICP質量分析法、検量線法 |
原子吸光法、ICP発光法、ICP質量分析法の原理および応用について理解できる。
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11週 |
X線分光法 |
X線回折法、蛍光X線法の原理および応用についてについて理解できる。
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12週 |
クロマトグラフィー1:クロマトグラフィーの原理 |
各種クロマトグラフィーの原理および特性を理解することができる。
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13週 |
クロマトグラフィー2:GC |
各種クロマトグラフィーの原理および特性を理解することができる。
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14週 |
クロマトグラフィー3:LC |
各種クロマトグラフィーの原理および特性を理解することができる。
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15週 |
まとめ |
授業全体について振り返り、その内容をまとめることができる。
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16週 |
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モデルコアカリキュラムの学習内容と到達目標
分類 | 分野 | 学習内容 | 学習内容の到達目標 | 到達レベル | 授業週 |
専門的能力 | 分野別の専門工学 | 化学・生物系分野 | 無機化学 | 元素の周期律を理解し、典型元素や遷移元素の一般的な性質を説明できる。 | 4 | |
錯体化学で使用される用語(中心原子、配位子、キレート、配位数など)を説明できる。 | 4 | |
錯体の命名法の基本を説明できる。 | 4 | |
配位数と構造について説明できる。 | 4 | |
代表的な錯体の性質(色、磁性等)を説明できる。 | 4 | |
代表的な元素の単体と化合物の性質を説明できる。 | 4 | |
評価割合
| 試験 | 課題 | 合計 |
総合評価割合 | 50 | 50 | 100 |
基礎的・専門的能力 | 50 | 50 | 100 |