| 理想的な到達レベルの目安 | 標準的な到達レベルの目安 | 最低限必要な到達レベルの目安（可） | 未到達レベルの目安 |
| SI単位系 | 新たな対象について次元解析を用いて計測量を決定できる。 | 右記のレベルに加え、与えられた量について次元解析が行える。 | SI基本単位が述べられ、定義の文章が選択できる。 特別な名称の組み立て単位を基本単位のみで組み立てられ、次元記号で表記ができる。 | 左記の項目のうちひとつでも到達していない。 |
| データの統計的扱い | 確率分布とサンプリング分布の間の関係を数式を用いて評価できる。 | 右記に加え、確率分布における平均、標準偏差が説明できる。 | ガウス分布の式、有限サンプルのデータの平均、資料標準偏差、信頼区間の計算ができる。 | 左記の項目のうちひとつでも答えられない。 |
| データからの推定 | 右記に加え非線形の最小二乗法を算出できる。離散フーリエ変換が行える。 | 右記のレベルに加え、線形の最小二乗の公式の導出ができる。フーリエ級数の係数を導出できる。 | 式に基づく誤差の伝播が計算できる。線形の最小二乗法が電卓で計算できる。フーリエ変換の式を選択できる。 | 左記の項目のうちひとつでも答えられない。 |
| 計測系の構成・信号の処理 | 右記に加え、フィルタ等のアナログ信号処理回路をOPアンプを用いて表現できる。 | 右記に加え変調が周波数シフトであることが説明できる。デジタル量の限界について周波数を用いて説明ができる。 | 変調の種類を答えることができる。フィルタの種類を答えることができる。アナログとデジタルの違いを述べられる。 | 左記の項目のうちひとつでも答えられない。 |
| 計測技術の理解 | 右記に加え機器固有の誤差要因を理解し、適切に運用ができる。 | 右記のレベルに加え、計測レンジに合わせた機器を選定できる。 | 力学的物理量のセンサについて列挙ができる。 | 力学的物理量を計測センサを列挙できない。 |