| 理想的な到達レベルの目安 | 標準的な到達レベルの目安 | 未到達レベルの目安 |
評価項目1 | 「半導体ダイオード静特性」に関する実験実施、結果報告、課題考察が正確にできる。 | 「半導体ダイオード静特性」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができる。 | 「半導体ダイオード静特性」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができない。 |
評価項目2 | 「半導体光センサ」に関する実験実施、結果報告、課題考察が正確にできる。 | 「半導体光センサ」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができる。 | 「半導体光センサ」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができない。 |
評価項目3 | 「トランジスタの静特性」に関する実験実施、結果報告、課題考察が正確にできる。 | 「トランジスタの静特性」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができる。 | 「トランジスタの静特性」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができない。 |
評価項目4 | 「熱電素子温度特性」に関する実験実施、結果報告、課題考察が正確にできる。 | 「熱電素子温度特性」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができる。 | 「熱電素子温度特性」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができない。 |
評価項目5 | 「オペアンプ」に関する実験実施、結果報告、課題考察が正確にできる。 | 「オペアンプ」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができる。 | 「オペアンプ」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができない。 |
評価項目6 | 「電力測定」に関する実験実施、結果報告、課題考察が正確にできる。 | 「電力測定」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができる。 | 「電力測定」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができない。 |
評価項目7 | 「シーケンス制御」に関する実験実施、結果報告、課題考察が正確にできる。 | 「シーケンス制御」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができる。 | 「シーケンス制御」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができない。 |
評価項目8 | 「スイッチングコンバータ」に関する実験実施、結果報告、課題考察が正確にできる。 | 「スイッチングコンバータ」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができる。 | 「スイッチングコンバータ」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができない。 |
評価項目9 | 「センサと電子回路基礎実験」に関する実験実施、結果報告、課題考察が正確にできる。 | 「センサと電子回路基礎実験」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができる。 | 「センサと電子回路基礎実験」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができない。 |
評価項目10 | 「制御工学基礎実験」に関する実験実施、結果報告、課題考察が正確にできる。 | 「制御工学基礎実験」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができる。 | 「制御工学基礎実験」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができない。 |
評価項目11 | 「電気抵抗の測定」に関する実験実施、結果報告、課題考察が正確にできる。 | 「電気抵抗の測定」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができる。 | 「電気抵抗の測定」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができない。 |
評価項目12 | 「LCの測定」に関する実験実施、結果報告、課題考察が正確にできる。 | 「LCの測定」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができる。 | 「LCの測定」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができない。 |
評価項目13 | 「センサプログラミング」に関する実験実施、結果報告、課題考察が正確にできる。 | 「センサプログラミング」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができる。 | 「センサプログラミング」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができない。 |
評価項目14 | 「3D CADの実習」に関する実験実施、結果報告、課題考察が正確にできる。 | 「3D CADの実習」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができる。 | 「3D CADの実習」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができない。 |
評価項目15 | 「入出力回路の制作」に関する実験実施、結果報告、課題考察が正確にできる。 | 「入出力回路の制作」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができる。 | 「入出力回路の制作」に関する実験実施、結果報告、課題考察ができない。 |