機器分析特論　

科目基礎情報

学校	小山工業高等専門学校	開講年度	令和05年度 (2023年度)
授業科目	機器分析特論
科目番号	0006	科目区分	専門 / 選択
授業形態	講義	単位の種別と単位数	学修単位: 2
開設学科	複合工学専攻（物質工学コース）	対象学年	専1
開設期	後期	週時間数	2
教科書/教材	なし
担当教員	渥美 太郎

到達目標

この講義では，固体材料用いられる機器分析の基礎について学ぶ．X線回折，走査型電子顕微鏡，X線光電子分光法，ICP発光分光光度法，熱分析法ついて理解することを目標とする．

ルーブリック

	理想的な到達レベルの目安	標準的な到達レベルの目安	未到達レベルの目安
評価項目1	固体化学の基礎について理解している． X線回折法，電子顕微鏡，X線光電子分光法，ICP発光分光光度法，熱分析の原理を説明できる． 試験で90％以上解答できる．	固体化学の基礎について理解している． X線回折法，電子顕微鏡，X線光電子分光法，ICP発光分光光度法，熱分析の原理を説明できる． 試験で75％以上解答できる．	固体の性質について理解していない． X線回折法，電子顕微鏡，X線光電子分光法，ICP発光分光光度法，熱分析の原理を説明できない．

学科の到達目標項目との関係

学習・教育到達度目標 ④ （高度な専門知識と問題解決能力の育成）

JABEE (A) （科学と工学の専門知識）

JABEE (d-1) （専門工学）

教育方法等

概要:

この講義の目的では固体材料用いられる機器分析の基礎について学びます．

授業の進め方・方法:

この講義の目的では固体材料用いられる機器分析の基礎について学びます．

注意点:

わからないことがあればオフィスアワーを利用してください．
隔年開講科目．本年度開講なし．

授業の属性・履修上の区分

遠隔授業対応

授業計画

		週	授業内容	週ごとの到達目標
後期
	3rdQ
		1週	結晶構造（１）・講義	単位格子，対称，ブラベー格子，結晶面とミラー指数について説明することができる．
		2週	結晶構造（２）・講義	最密充填構造について説明することができる．
		3週	結晶構造（３）・講義	代表的な結晶構造ついて説明することができる．
		4週	格子欠陥，非化学量論・講義	ショットキー欠陥やフレンケル欠陥，及び欠陥の表記方法について説明することができる．
		5週	固溶体・講義	置換型固溶体や侵入型固溶体について説明することができる．
		6週	固体の結合・講義	イオン結合，共有結合，金属結合について説明することができる．
		7週	電気的性質・講義	金属伝導，半導体，イオン伝導，誘電体について説明することができる．
		8週	中間試験	固体化学の基礎を理解する．
	4thQ
		9週	合成プロセス・講義	固体の合成プロセスについて説明することができる．
		10週	X線回折法（1）・講義	X線回折法の原理について説明することができる．
		11週	X線回折法（2）・講義	X線回折データの解析について説明することができる．
		12週	走査型電子顕微鏡・講義	走査型電子顕微鏡及びエネルギー分光器の原理について説明することができる．
		13週	X線光電子分光法・講義	X線光電子分光法の原理について説明することができる．
		14週	ICP発光分光光度法・講義	ICP発光分光光度法の原理について説明することができる．
		15週	熱重量分析，示差熱分析・講義	熱重量分析，示差熱分析，示差走査熱分析の原理について説明することができる．
		16週	定期試験	固体材料用いられる機器分析の基礎を理解する．

モデルコアカリキュラムの学習内容と到達目標

分類		分野	学習内容	学習内容の到達目標	到達レベル	授業週
専門的能力	分野別の工学実験・実習能力	化学・生物系分野【実験・実習能力】	分析化学実験	代表的な定性・定量分析装置としてクロマト分析(特にガスクロ、液クロ)や、物質の構造決定を目的とした機器(吸光光度法、X線回折、NMR等)、形態観察装置としての電子顕微鏡の中の代表的ないずれかについて、その原理を理解し、測定からデータ解析までの基本的なプロセスを行うことができる。	4
				固体、液体、気体の定性・定量・構造解析・組成分析等に関して必要な特定の分析装置に関して測定条件を選定し、得られたデータから考察をすることができる。	4

評価割合

	試験	発表	相互評価	態度	ポートフォリオ	その他	合計
総合評価割合	100	0	0	0	0	0	100
基礎的能力	0	0	0	0	0	0	0
専門的能力	100	0	0	0	0	0	100
分野横断的能力	0	0	0	0	0	0	0