機器分析Ⅰ

科目基礎情報

学校 東京工業高等専門学校 開講年度 平成28年度 (2016年度)
授業科目 機器分析Ⅰ
科目番号 0008 科目区分 専門 / 必修
授業形態 授業 単位の種別と単位数 履修単位: 1
開設学科 物質工学科 対象学年 4
開設期 後期 週時間数 2
教科書/教材 田中誠之,飯田芳男著,機器分析(三訂版),裳華房
担当教員 井手 智仁

到達目標

各装置の原理と測定結果を読み解けるようになる

ルーブリック

理想的な到達レベルの目安標準的な到達レベルの目安未到達レベルの目安
評価項目1吸光・発光分析やクロマトグラフィー等の原理と測定結果を読み解くことができる吸光・発光分析やクロマトグラフィー等の原理と簡単な分子の測定結果を説明することかできる吸光・発光分析やクロマトグラフィー等の原理と簡単な分子の測定結果を説明することかできない
評価項目2
評価項目3

学科の到達目標項目との関係

教育方法等

概要:
機器分析の原理,測定方法を理解し,測定データが解析できるようにする.
授業の進め方・方法:
各測定法について講義を行った後,演習を行いレポートを提出する.
注意点:

授業計画

授業内容 週ごとの到達目標
後期
3rdQ
1週 イントロダクション 左記内容が理解できる
2週 吸光光度法 左記内容が理解できる
3週 紫外吸収スペクトル,蛍光分析 左記内容が理解できる
4週 原子吸光法・発光分光分析 左記内容が理解できる
5週 総合演習 左記内容が理解できる
6週 クロマトグラフィー(1) 左記内容が理解できる
7週 クロマトグラフィー(2) 左記内容が理解できる
8週 クロマトグラフィー(3) 左記内容が理解できる
4thQ
9週 クロマトグラフィー(4) 左記内容が理解できる
10週 総合演習 左記内容が理解できる
11週 X線分析・電子線分析(1) 左記内容が理解できる
12週 X線分析・電子線分析(2) 左記内容が理解できる
13週 電子顕微鏡 左記内容が理解できる
14週 原子間力顕微鏡 左記内容が理解できる
15週 総合演習 左記内容が理解できる
16週

モデルコアカリキュラムの学習内容と到達目標

分類分野学習内容学習内容の到達目標到達レベル授業週
専門的能力分野別の専門工学化学・生物系分野分析化学無機および有機物に関する代表的な構造分析、定性、定量分析法等を理解している。3

評価割合

レポート発表相互評価態度ポートフォリオその他合計
総合評価割合10000000100
基礎的能力0000000
専門的能力10000000100
分野横断的能力0000000