機器分析Ⅰ

科目基礎情報

学校 東京工業高等専門学校 開講年度 2017
授業科目 機器分析Ⅰ
科目番号 0038 科目区分 専門 / 必修
授業形態 授業 単位の種別と単位数 履修単位: 1
開設学科 物質工学科 対象学年 4
開設期 後期 週時間数 2
教科書/教材 庄野利之,脇田久伸編著,新版入門機器分析化学,三共出版
担当教員 井手 智仁

到達目標

各装置の原理を理解し,分析方法を選定することや測定結果を読み解くことができるようになることを目標とする.

ルーブリック

理想的な到達レベルの目安標準的な到達レベルの目安未到達レベルの目安
吸光・発光分析やクロマトグラフィー等の原理を理解し,目的に合わせた最適な測定法を選定でき,測定結果を読み解くことができる吸光・発光分析やクロマトグラフィー等が得意とする分析対象を知り,簡単な測定結果なら読み解くことができる吸光・発光分析やクロマトグラフィー等の分析対象がわからず,簡単な分子の測定結果も説明することかできない

学科の到達目標項目との関係

JABEE (c) 説明 閉じる
JABEE (d) 説明 閉じる
学習・教育目標 C4 説明 閉じる
学習・教育目標 C6 説明 閉じる
学習・教育目標 C7 説明 閉じる

教育方法等

概要:
機器分析の原理,測定方法を理解し,測定データが解析できるようにする.
授業の進め方・方法:
各測定法について講義を行った後,演習を行いレポートを提出する.
注意点:

授業計画

授業内容 週ごとの到達目標
後期
3rdQ
1週 イントロダクション 左記内容が理解できる
2週 吸光光度法 左記内容が理解できる
3週 紫外吸収スペクトル,蛍光分析 左記内容が理解できる
4週 原子吸光法・発光分光分析 左記内容が理解できる
5週 総合演習 模擬測定データや実際のデータを解析できる.適した装置を選定できる
6週 クロマトグラフィー(1) 左記内容が理解できる
7週 クロマトグラフィー(2) 左記内容が理解できる
8週 クロマトグラフィー(3) 左記内容が理解できる
4thQ
9週 クロマトグラフィー(4) 左記内容が理解できる
10週 総合演習 模擬測定データや実際のデータを解析できる.適した装置を選定できる
11週 X線分析・電子線分析(1) 左記内容が理解できる
12週 X線分析・電子線分析(2) 左記内容が理解できる
13週 電子顕微鏡 左記内容が理解できる
14週 原子間力顕微鏡 左記内容が理解できる
15週 総合演習 模擬測定データや実際のデータを解析できる.適した装置を選定できる
16週

モデルコアカリキュラムの学習内容と到達目標

分類分野学習内容学習内容の到達目標到達レベル授業週
専門的能力分野別の専門工学化学・生物系分野分析化学光吸収について理解し、代表的な分析方法について説明できる。4
Lambert-Beerの法則に基づく計算をすることができる。4
イオン交換による分離方法についての概略を説明できる。4
溶媒抽出を利用した分析法について説明できる。4
無機および有機物に関する代表的な構造分析、定性、定量分析法等を理解している。4
クロマトグラフィーの理論と代表的な分析方法を理解している。4
特定の分析装置を用いた気体、液体、固体の分析方法を理解し、測定例をもとにデータ解析することができる。4

評価割合

レポート発表相互評価態度ポートフォリオその他合計
総合評価割合10000000100
基礎的能力0000000
専門的能力10000000100
分野横断的能力0000000