到達目標
1.計測データの誤差とその原因について理解して誤差を処理するための基本的なデータ処理方法を説明できる
2.アナログデジタル変換処理の流れを要素部分に分け定性的に説明することができる
3.基本的な計測における不確かさについてバジェットシートを使って計算することができる
ルーブリック
| 理想的な到達レベルの目安 | 標準的な到達レベルの目安 | 未到達レベルの目安 |
| 評価項目1 | 計測データの誤差とその原因について理解して誤差を処理するための複合的なデータ処理方法を説明できる | 計測データの誤差とその原因について理解して誤差を処理するための基本的なデータ処理方法を説明できる | 計測データの誤差とその原因について理解して誤差を処理するための基本的なデータ処理方法を説明できない |
| 評価項目2 | アナログデジタル変換処理の流れを要素部分に分け定量的に説明することができる | アナログデジタル変換処理の流れを要素部分に分け定性的に説明することができる | アナログデジタル変換処理の流れを要素部分に分け定性的に説明することができない |
| 評価項目3 | 複雑な計測における不確かさについてバジェットシートを使って計算することができる | 基本的な計測における不確かさについてバジェットシートを使って計算することができる | 基本的な計測における不確かさについてバジェットシートを使って計算することができない |
学科の到達目標項目との関係
MCCコア科目
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JABEE B4
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ディプロマポリシー 1
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教育方法等
概要:
学習目標(授業の狙い)
計測機器を理解する上で基本となる計測データと誤差解析について学ぶ.
授業の進め方・方法:
教員単独による講義を実施する。
注意点:
課題を20%，試験を80%として評価する．
評 価が６０点に満たない者は，願い出により追認試験を受けることができる。
追認試験の結果，単位の修得が認められた者にあっては，その評価を６０点とする。
授業計画
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週 |
授業内容 |
週ごとの到達目標 |
| 前期 |
| 1stQ |
| 1週 |
ガイダンス
関連項目の復習
誤差解析の重要性
測定結果の解釈 |
これまでに学習した誤差や有効数値に関する知識を説明できる。
測定においてなぜ誤差解析が重要であるか具体例で説明できる。
測定した結果をどのような手順で解析し、解釈するか説明できる。
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| 2週 |
線形回帰と誤差の見積もり |
関数関係を持つ測定値の最良推定値とその誤差について説明できる。
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| 3週 |
測定方法の種類と規格 |
さまざまな測定方法と測定に関する規格について説明できる。
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| 4週 |
アナログデジタル変換1 |
サンプリング定理、パーセバルの定理、フーリエ変換と窓関数について説明できる。
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| 5週 |
アナログデジタル変換2 |
AD変換の手法と量子化ビット数、量子化誤差について説明できる。
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| 6週 |
信号処理 |
デジタル計測における信号処理の有効性と移動平均法について説明できる。
フーリエ変換について学習、演習説明できる。
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| 7週 |
不確かさ
誤差の原因 |
精度や確度、誤差などを内包する不確かさの概念と規格について説明できる。
バジェットシートを使って不確かさをの導出できる。
系統誤差、偶然誤差、有効数字の桁数について説明できる。
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| 8週 |
期末試験 |
計測や信号処理、不確かさについて説明し、関連する計算をすることができる。
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| 2ndQ |
| 9週 |
答案返却、解説、授業アンケート等 |
成績評価・確認
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| 10週 |
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| 11週 |
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| 12週 |
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| 13週 |
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| 14週 |
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| 15週 |
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| 16週 |
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モデルコアカリキュラムの学習内容と到達目標
| 分類 | 分野 | 学習内容 | 学習内容の到達目標 | 到達レベル | 授業週 |
評価割合
| 試験 | 発表 | 相互評価 | 態度 | ポートフォリオ | その他 | 合計 |
| 総合評価割合 | 80 | 0 | 0 | 0 | 20 | 0 | 100 |
| 基礎的能力 | 80 | 0 | 0 | 0 | 20 | 0 | 100 |
| 専門的能力 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
| 分野横断的能力 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |