電子デバイスⅡ

科目基礎情報

学校 岐阜工業高等専門学校 開講年度 平成28年度 (2016年度)
授業科目 電子デバイスⅡ
科目番号 0088 科目区分 専門 / 選択
授業形態 講義 単位の種別と単位数 学修単位: 1
開設学科 電子制御工学科 対象学年 5
開設期 後期 週時間数 1
教科書/教材 絵から学 ぶ半導体デバイス工(谷口研二・朝倉書店 )
担当教員 籾山 克章

到達目標

21世紀高度情報化社会は、マイクロプロセッサと半導体メモリの集積回路なくしては成立しない。これまで学んできた電気関連科目の知識をもとに、エネルギーバンドの概念を導入して、集積回路の基礎となる半導体デバイスの動作原理を学習し、工学に応用する方法を習得する。具体的には以下の項目を目標とする。①金属と半導体の接合について理解する②MOSトランジスタについて理解する③MOSトランジスタのモデルを説明できる

ルーブリック

理想的な到達レベルの目安標準的な到達レベルの目安未到達レベルの目安
評価項目1ショットキー接合についてバンド図を用いて自分の言葉で現象を説明できる金属と半導体の接合に関する問題をほぼ正確(6割以上)に解くことができる金属と半導体の接合に関する問題をほぼ正確(6割以上9に解くことができない
評価項目2MOSFETの現象について自分の言葉で説明できるMOSトランジスタに関する問題をほぼ正確(6割以上)に解くことができるMOSトランジスタに関する問題をほぼ正確(6割以上)に解くことができない
評価項目3MOSトランジスタについてのモデルをたて自分の言葉で説明しまとめることができるMOSトランジスタのモデルをたてることができるMOSトランジスタのモデルを耐たてることができない

学科の到達目標項目との関係

教育方法等

概要:
授業の進め方・方法:
授業は, 教科書, 配布プリントと板書を中心に行うので,各自学習ノー充実させること。
注意点:

授業計画

授業内容 週ごとの到達目標
後期
3rdQ
1週 金属と半導体の接合・ショットキー障壁の高さ
2週 ショットキーダイオードの電流電圧特性・オーミック接触
3週 演習
4週 中間試験
5週 MOSトランジスタの動作原理
6週 MOS構造の解析
7週 MOSトランジスタの電流電圧特性
8週 簡略化した電流電圧特性
4thQ
9週 基板バイアス効果
10週 サブスレッショルド特性
11週 MOSキャパシタのC-V特性
12週 MOSトランジスタ各部の容量
13週 演習
14週 総まとめおよび期末試験対策
15週 期末試験の解説
16週

モデルコアカリキュラムの学習内容と到達目標

分類分野学習内容学習内容の到達目標到達レベル授業週

評価割合

試験発表相互評価態度ポートフォリオその他合計
総合評価割合80000020100
基礎的能力0000000
専門的能力80000020100
分野横断的能力0000000