| 理想的な到達レベルの目安 | 標準的な到達レベルの目安(可) | 未到達到達レベルの目安(不可) |
評価項目(ア) | 制御工学の位置づけ、制御系の構成、制御系設計の目的を理解し、的確に説明できる。 | 制御工学の位置づけ、制御系の構成、制御系設計の目的を理解し説明できる。 | 制御工学の位置づけ、制御系の構成、制御系設計の目的の理解が不十分で説明できない。 |
評価項目(イ) | 過渡特性や周波数特性を理解し、制御要素の制御性能が導出できる。 | 過渡特性や周波数特性を理解し、基本制御要素の制御性能が導出できる。 | 過渡特性や周波数特性の理解が不十分で、基本制御要素の制御性能が導出できない。 |
評価項目(ウ) | ベクトル軌跡、ボード線図やゲイン-位相線図が読め,特性を把握できる。 | ベクトル軌跡、ボード線図やゲイン-位相線図が読める。 | ベクトル軌跡、ボード線図やゲイン-位相線図が読めない。 |
評価項目(エ) | 制御系の安定性について理解し、安定判別、安定度(ゲイン余裕や位相余裕)を求め,制御系を設計することができる。
| 制御系の安定性について理解し、安定判別、安定度(ゲイン余裕や位相余裕)を求めることができる。
| 制御系の安定性についての理解が不十分で、安定判別、安定度(ゲイン余裕や位相余裕)を求めることができない。
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評価項目(オ) | フィードバック制御系の定常特性、過渡特性、ニコルス線図を理解し、制御性能の評価した上で制御系設計ができる。
| フィードバック制御系の定常特性、過渡特性、ニコルス線図を理解し、制御性能の評価ができる。
| フィードバック制御系の定常特性、過渡特性、ニコルス線図の理解が不十分で制御性能の評価ができない。
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評価項目(カ) | 制御性能を決定する根配置を理解し、根軌跡法による制御系設計ができる。 | 制御性能を決定する根配置を理解し、根軌跡法による制御系設計について説明できる。 | 制御性能を決定する根配置の理解が不十分で根軌跡法による制御系設計を理解できない。 |
評価項目(キ) | 位相進み補償、位相遅れ補償、PID制御系を理解し、制御仕様を満たす制御系設計ができる。 | 位相進み補償、位相遅れ補償、PID制御系を理解し、制御系設計について説明できる。 | 位相進み補償、位相遅れ補償、PID制御系による制御系設計の理解が不十分で説明できない。 |
評価項目(ク) | 制御系の状態空間表現と制御系の解析、可制御・可観測性を理解し、導出できる。
| 制御系の状態空間表現と制御系の解析、可制御・可観測性を理解し説明できる。
| 制御系の状態空間表現と制御系の解析、可制御・可観測性の理解が不十分で説明できない。
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