| 理想的な到達レベルの目安 | 標準的な到達レベルの目安 | 未到達レベルの目安 |
評価項目1 | ① 測定誤差の原因と種類,精度と不確かさ,合成誤差を十分に説明できる。 | ① 測定誤差の原因と種類,精度と不確かさ,合成誤差を説明できる。 | ① 測定誤差の原因と種類,精度と不確かさ,合成誤差を説明できない。 |
評価項目2 | 2 基本統計量(各種平均値,相関等)および計測誤差の計算が十分にできる。 | 2 基本統計量(各種平均値,相関等)および計測誤差の計算ができる。 | 2 基本統計量(各種平均値,相関等)および計測誤差の計算ができない。 |
評価項目3 | 品質,コスト,効率,スピード,納期などに対する視点を十分に持つことができる。 | 品質,コスト,効率,スピード,納期などに対する視点を持つことができる。 | 品質,コスト,効率,スピード,納期などに対する視点を持つことができない。 |
評価項目4 | 長さ,角度,形状,力,圧力,流量,粘度,温度,湿度,時間,回転数などの計測方法と計測機器を十分に説明できる。 | 長さ,角度,形状,力,圧力,流量,粘度,温度,湿度,時間,回転数などの計測方法と計測機器を説明できる。 | 長さ,角度,形状,力,圧力,流量,粘度,温度,湿度,時間,回転数などの計測方法と計測機器を説明できない。 |
評価項目5 | 伝熱の基本形態を理解し,各形態における伝熱機構を十分に説明できる。 | 伝熱の基本形態を理解し,各形態における伝熱機構を説明できる。 | 伝熱の基本形態を理解できず,各形態における伝熱機構を説明できない。 |
評価項目6 | プランクの法則,ステファン・ボルツマンの法則,ウィーンの変位則を十分に説明できる。 | プランクの法則,ステファン・ボルツマンの法則,ウィーンの変位則を説明できる。 | プランクの法則,ステファン・ボルツマンの法則,ウィーンの変位則を説明できない。 |
評価項目7 | 単色ふく射率および全ふく射率を十分に説明できる。 | 単色ふく射率および全ふく射率を説明できる。 | 単色ふく射率および全ふく射率を説明できない。 |