| 理想的な到達レベルの目安 | 標準的な到達レベルの目安 | 未到達レベルの目安 |
評価項目1 | 異方性材料の特徴を十分に理解し、任意の結晶方位の物性値を正確に計算できる。 | 異方性材料の特徴を理解し、任意の結晶方位の物性値を計算できる。 | 異方性材料の特徴の理解が不十分で、任意の結晶方位の物性値を計算できない。 |
評価項目2 | 代表的な半導体微細加工技術の原理を十分に理解し、正確に説明できる。 | 代表的な半導体微細加工技術の原理を理解し、説明できる。 | 代表的な半導体微細加工技術の原理の理解が不十分で、説明できない。 |
評価項目3 | マイクロマシンの構造から作製工程を具体的に説明できる。 | マイクロマシンの構造から作製工程を説明できる。 | マイクロマシンの構造から作製工程を具体的に説明できない。 |
評価項目4 | センサの検出原理、アクチュエータの駆動原理を十分に理解し、正確に説明できる。 | センサの検出原理、アクチュエータの駆動原理を理解し、説明できる。 | センサの検出原理、アクチュエータの駆動原理の理解が不十分で、説明できない。 |
評価項目5 | センサやアクチュエータの設計技術を正確に応用できる。 | センサやアクチュエータの設計技術を応用できる。 | センサやアクチュエータの設計技術を応用できない。 |