機器分析

科目基礎情報

学校 阿南工業高等専門学校 開講年度 令和08年度 (2026年度)
授業科目 機器分析
科目番号 1494C01 科目区分 専門 / 選択
授業形態 授業 単位の種別と単位数 学修単位: 2
開設学科 化学コース 対象学年 4
開設期 後期 週時間数 後期:2
教科書/教材 参考書: 基本分析化学~イオン平衡から機器分析法まで(三共出版)
担当教員 鄭 涛,大谷 卓,杉山 雄樹,小西 智也,上田 康平,山口 堅三,本田 晴香

到達目標

1. 各種クロマトグラフィーの原理と分析方法について説明できる。
2. 各種滴定法の原理と分析方法について説明できる。
3. 各種分光法の原理と分析方法について説明できる。

ルーブリック

理想的な到達レベルの目安標準的な到達レベルの目安未到達レベルの目安
評価項目1クロマトグラフィーに関する応用問題を解くことができる。クロマトグラフィーに関する練習問題を解くことができる。クロマトグラフィーに関する例題をとくことができない。
評価項目2滴定法に関する応用問題を解くことができる。滴定法に関する練習問題を解くことができる。滴定法に関する例題をとくことができない。
評価項目3分光法に関する応用問題を解くことができる。分光法に関する練習問題を解くことができる。分光法に関する例題をとくことができない。

学科の到達目標項目との関係

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教育方法等

概要:
分析化学に関する知識を確実なものとし、測定機器を利用した分析方法について学習する。この科目の一部は、企業で各種分析機器を用いて研究開発を担当していた教員が、その経験を活かし機器分析について講義形式で授業を行うものである。
授業の進め方・方法:
講義と演習により進める。
【授業時間30時間+自学自習時間60時間】
注意点:
講義では関数電卓を使用する。

授業の属性・履修上の区分

アクティブラーニング
ICT 利用
遠隔授業対応
実務経験のある教員による授業

授業計画

授業内容 週ごとの到達目標
後期
3rdQ
1週 イオン交換法1 イオン交換法の原理を説明できる
2週 イオン交換法2 イオン交換法の原理を説明できる
3週 錯体の生成1 錯体の生成について説明できる
4週 錯体の生成2 錯体の生成について説明できる
5週 キレート滴定 キレート滴定について原理を理解し,金属イオンの濃度計算ができる。
6週 NMR1 NMRの原理について説明できる
7週 NMR2 NMRのスペクトルから分子構造を推測できる
8週 【中間試験】
4thQ
9週 質量分析 質量分析の原理と応用について説明できる
10週 クロマトグラフィー1 ガスクロマトグラフィーについて説明できる
11週 クロマトグラフィー2 液体クロマトグラフィーについて説明できる
12週 分光法1 紫外・可視分光法について説明できる
13週 分光法2 ランバート-ベールの法則と比色分析について説明できる
14週 分光法3 原子吸光分析法・ICP発光分析法について説明できる
15週 表面分析 SEMの原理と応用について説明できる
16週 【答案返却】

モデルコアカリキュラムの学習内容と到達目標

分類分野学習内容学習内容の到達目標到達レベル授業週
専門的能力分野別の専門工学化学・生物系分野分析化学錯体の生成について説明できる。4後3,後4
キレート滴定についての原理を理解し、金属イオンの濃度計算ができる。4後5
光吸収について理解し、代表的な分析方法について説明できる。4後12,後14
Lambert-Beerの法則に基づく計算をすることができる。4後13
イオン交換による分離方法についての概略を説明できる。4後1,後2
無機および有機物に関する代表的な構造分析、定性、定量分析法等を理解している。4後6,後7,後9,後13
クロマトグラフィーの理論と代表的な分析方法を理解している。4後10,後11
特定の分析装置を用いた気体、液体、固体の分析方法を理解し、測定例をもとにデータ解析することができる。4後6,後7,後10,後11,後13

評価割合

試験ポートフォリオ合計
総合評価割合7030100
基礎的能力20020
専門的能力503080