到達目標
(1) SI基本単位、誤差の処理について理解し説明できる．(定期試験と課題)
(2) 各種計測法の原理について理解し説明できる．(定期試験と課題)
(3) 増幅回路やAD変換について理解し説明できる．(定期試験と課題)
(4) 過渡応答や周波数応答について理解し説明できる．(定期試験と課題)
ルーブリック
| 理想的な到達レベルの目安 | 標準的な到達レベルの目安 | 未到達レベルの目安 |
| 到達目標(1)の評価指標 | SI基本単位、誤差の処理について理解し説明できる | SI基本単位、誤差の処理について理解できる | SI基本単位、誤差の処理について理解できない |
| 到達目標(2)の評価指標 | 各種計測法の原理について理解し説明できる | 各種計測法の原理について理解できる | 各種計測法の原理について理解できない |
| 到達目標(3)の評価指標 | 増幅回路やAD変換について理解し説明できる | 増幅回路やAD変換について理解できる | 増幅回路やAD変換について理解できない |
| 到達目標(4)の評価指標 | 過渡応答や周波数応答について理解し説明できる | 過渡応答や周波数応答について理解できる | 過渡応答や周波数応答について理解できない |
学科の到達目標項目との関係
学習・教育目標 (B2)
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JABEE 1.2(d)(1)
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教育方法等
概要:
“測る”という工程が無くては、物を作ることはできない．昨今，自動化技術の開発がますます盛んになっているが，そこでも計測は重要な役割を果たしている．本科目では，各種センサの計測原理と計測データの処理方法について学び，実験や研究を円滑に進められる力を養う．また各種測定器やセンサなどの実物を極力見せる機会を作り，より計測に関する興味と理解を深める．
関連科目：設計製図Ⅱ，設計製図Ⅲ
授業の進め方・方法:
講義と課題(自己学習)
到達目標の(1)～(4)について計2回の定期試験と課題で評価する．
（事前学習）
授業前に、教科書の該当箇所を確認しておく．
注意点:
（履修上の注意）
誤った測定情報を鵜呑みにしない，データの見極め方に慣れること．
（自学上の注意）
受講前に必ず前回の講義内容を確認し，要点を整理する．
評価
（総合評価）
総合評価＝0.8×(2回の定期試験の平均)＋0.2×(課題点)
（再試験）
再試験の受験資格は，課題を全て提出した者に与える．
授業の属性・履修上の区分
授業計画
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週 |
授業内容 |
週ごとの到達目標 |
| 後期 |
| 3rdQ |
| 1週 |
SI基本単位
断面曲線と粗さ曲線 |
SI基本単位について説明できる．
断面曲線と粗さ曲線について説明できる．
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| 2週 |
測定データの統計的処理 |
母平均と真の値の差について説明できる．
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| 3週 |
最小二乗法 |
最小二乗法を使って測定データから最小二乗直線を求めることができる．
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| 4週 |
直接測定と間接測定 |
間接測定における誤差の処理ができる．
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| 5週 |
最小値探索 |
勾配降下法を利用して最小値探索ができる．
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| 6週 |
計測系の構成 |
反転増幅回路と非反転増幅回路について説明できる．
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| 7週 |
計測系の特性 |
逐次比較方式AD変換器の概要が説明できる．
静特性について説明できる．
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| 8週 |
後期中間試験内容の確認 |
これまでに学んだ内容が理解できているか確認する．また，理解が不十分な箇所を把握し復習する．
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| 4thQ |
| 9週 |
後期中間試験 |
到達目標(1)
到達目標(2)
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| 10週 |
計測系の特性 |
過渡応答を式で表現できる．
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| 11週 |
計測系の特性 |
入出力の複素数表示ができる．
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| 12週 |
計測系の特性 |
1次遅れ系の周波数応答を求めることができる．
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| 13週 |
長さ，角度，表面粗さの測定 |
アッベの原理について説明できる．
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| 14週 |
長さ，角度，表面粗さの測定 |
モアレ縞について説明できる．
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| 15週 |
後期期末試験 |
到達目標(3)
到達目標(4)
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| 16週 |
後期期末試験の解説 |
理解が不十分な箇所を把握し復習する．
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モデルコアカリキュラムの学習内容と到達目標
| 分類 | 分野 | 学習内容 | 学習内容の到達目標 | 到達レベル | 授業週 |
評価割合
| 試験 | 課題 | 合計 |
| 総合評価割合 | 80 | 20 | 100 |
| 基礎的能力 | 0 | 0 | 0 |
| 専門的能力 | 80 | 20 | 100 |